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プレスリリース

日本電子株式会社

「全固体電池材料/シリコン負極・固体電解質の分析事例紹介」ウェビナーを日本電子が開催(2021年10月15日(金)15:00〜17:00)

(@Press) 2021年09月14日(火)13時30分配信 @Press

日本電子株式会社(代表取締役社長兼COO:大井 泉、証券コード:6951、以降 JEOL)は、全固体電池で研究が進められているシリコン負極・固体電解質の材料について豊橋技術科学大学・松田教授にご協力をいただき、全固体電池の概要からJEOLの各装置で行った分析事例をご紹介するウェビナーを2021年10月15日(金)に開催いたします。

画像1: https://www.atpress.ne.jp/releases/275653/LL_img_275653_1.jpg
ウェビナーイメージ

詳細はこちら: https://www.jeol.co.jp/news/detail/20210910.5027.html

■このウェビナーから学べること
・全固体電池の概要
・シリコン負極の分析事例(オージェマイクロプローブの新機能SIマッピング、SXESの活用方法など)
・固体電解質の分析事例(安全性・品質評価に向けた分析)
・非曝露環境におけるTEM用の試料作製


■参加いただきたいお客様
・電池材料の研究・開発・製造をされている方
・工業材料の分析をされている方
・分析サービスに携わる方


■開催日/詳細
2021年10月15日 (金) 15:00〜17:00(各講演は、約15分です。)
Zoomで開催します。


<プログラム>
●特別講演
「全固体電池の構築に向けた硫化物系固体電解質とシリコン負極の複合化」
豊橋技術科学大学 電気・電子情報工学系 教授 松田 厚範 様
●講演1 AES-spectral imaging法によるLi分析 (JEOL)
●講演2 FIB-SEMによる大気非曝露TEM試料作製 (JEOL)
●講演3 SEM-軟X線発光分光(SXES)法を用いた充電状態におけるシリコン負極の化学状態分析 (JEOL)
●講演4 透過電子顕微鏡を用いたシリコン負極の評価 (JEOL)
●講演5 TG-MSシステムでの硫化物系固体電解質のその場分析 (JEOL)
●講演6 XPSを用いた充放電前後の固体電解質の状態分析 (JEOL)
●講演7 NMRで観るLiイオンダイナミクス (JEOL)


■参加費
無料(先着順での受付となります。お早目にお申込みください。)
下記、案内Webページよりお申込みください。
https://www.jeol.co.jp/news/detail/20210910.5027.html


■会社概要
社名 : 日本電子株式会社(JEOL Ltd.)
所在地 : 〒196-8558 東京都昭島市武蔵野3-1-2
代表者 : 代表取締役社長兼COO 大井 泉
設立 : 1949年5月30日
資本金 : 100億3,774万円
事業内容: 理科学計測機器(電子光学機器・分析機器、計測検査機器)、
半導体関連機器、産業機器、医用機器の製造・販売・開発研究、
およびそれに附帯する製品・部品の加工委託、保守・サービス、
周辺機器の仕入・販売
URL : https://www.jeol.co.jp/


■本件に関するお客さまからのお問い合わせ先
日本電子株式会社 デマンド推進本部 ウェビナー事務局
お問い合わせフォーム: sales1[at]jeol.co.jp ※ [at]は@に、ご変更ください。

プレスリリース提供元:@Press

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